IEC 60747-11-1985 半导体器件分立器件第11部分:分立器件分规范

作者:标准资料网 时间:2024-05-12 04:42:11  浏览:8652   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices.Discretedevices.Part11:SectionalSpecificationfordiscretedevices
【原文标准名称】:半导体器件分立器件第11部分:分立器件分规范
【标准号】:IEC60747-11-1985
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:1985
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分规范;电子设备及元件;电子工程;电气工程;规范(验收);测量;集成电路;半导体;半导体;半导体器件;检验;作标记;作标记;规范(批准)
【英文主题词】:Components;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Inspection;Integratedcircuits;Marking;Measurement;Methodsformeasuring;Quality;Qualityassessment;Qualityassessmentsystems;Sectionalspecification;Semiconductordevices;Semiconductors;Specification(approval);Specifications;Testing
【摘要】:Applicabletoqualityassessmentfordiscretesemiconductordevices.Givesspecificrequirementsforqualityconformanceinspection(includedinQC750000oftheIECQsystem)andidentificationofterminals;representsthesectionalspecification.Contai
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:35P.;A4
【正文语种】:英语