ANSI/TIA/EIA 455-173-1990 用于光纤侧面检查法的覆层几何学测量

作者:标准资料网时间:2024-05-17 04:10:19 浏览:9294 来源:标准资料网

【英文标准名称】:CoatingGeometryMeasurementforOpticalFiberSideViewMethod
【原文标准名称】:用于光纤侧面检查法的覆层几何学测量
【标准号】:ANSI/TIA/EIA455-173-1990
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1990
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:覆层;光波导;测量技术;光纤
【英文主题词】:coatings;fibreoptics;opticalwaveguides;measuringtechniques
【摘要】:Describesaprocedureformeasuringthepolarization-modedispersion(PMD)ofsingle-modeopticalfibers.Thisstandardwaslistedforpublicreviewinthe5/5/2000issueofStandardsAction.Itisbeingresubmittedduetosubstantivechangestothetext.
【中国标准分类号】:M33
【国际标准分类号】:33_180_10
【页数】:
【正文语种】:英语

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