GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-24 11:58:36 浏览:8839
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基本信息
| 标准名称： | 金属氧化物半导体气敏元件测试方法 |
| 英文名称： | Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子元件 >> 敏感元器件及传感器 |
| ICS分类： | 电子学 >> 电子元件综合 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1995-07-24 |
| 实施日期： | 1996-04-01 |
| 首发日期： | 1995-07-24 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 电子工业部标准化研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 平装16开， 页数：12， 字数：19千字 |
适用范围
本标准规定了金属氧化物半导体气敏件性能参数测试方法的基本原理，没有规定这些方法在实际使用时的技术细节，测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于金属氧化物半导体气敏件性能参数的测试，其他气敏件亦可参照使用。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子元件 敏感元器件及传感器 电子学 电子元件综合
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